Diseño de planes de muestreo óptimos basados en el número de defectos con repetición en la inspección de los lotes

C. J. Pérez González, A. Fernández Rodríguez

El diseño de planes de muestreo basados en datos del número de defectos es un problema de optimización bajo ciertos requisitos de niveles de calidad fijados por el productor y el consumidor. Este trabajo presenta un método para determinar los diseños óptimos cuando la inspección de los lotes no aceptados se vuelve a repetir un cierto número de veces. El número de defectos por unidad inspeccionada se asume que sigue una distribución de Poisson. Se obtienen aproximaciones explícitas bastante precisas del número óptimo de unidades por lote que deben ser inspeccionadas así como del número máximo tolerable de defectos en la muestra seleccionada. Asimismo, mediante optimización no lineal entera, se calcula el número óptimo de reinspecciones con mínimo esfuerzo de inspección y riesgos controlados. El método se ilustra mediante un ejemplo sobre un proceso de fabricación de láminas de cristal

Palabras clave: planes de muestreo óptimos, número de defectos, riesgos de productor y consumidor, optimización con restricciones

X03.2 Fiabilidad
7 de septiembre de 2016  10:00
0.09 - Aula de proyectos 2

J. E. Ruiz Castro

J. Cárcamo Urtiaga, A. Baíllo Moreno, K. Getman